高低温冲击试验箱，三箱冷热冲击试验机简介：
高低温冲击试验箱，三箱式冷热冲击试验机主要用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,通过测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的质量,从精密的IC到重机械的组件，作为其产品改进的依据或参考。以便考核试品的适应性或对试品的行为作出改进、鉴定及出厂检验用。
高低温冲击试验箱，三箱冷热冲击试验机技术性能：
测试方法：GB/T 5170.2-1996 温度试验设备
高温室
预温度范围：RT～+200℃
升温时间：RT+10℃→+200℃ ≤40min
低温室
预冷温度范围：RT~-70℃
降温时间：RT → -70℃≤60min
试验室（试样区）
试验方式：气动风门切换
温区冲击试验条件：高温-常温-低温
温度冲击范围：-55℃～ +80℃
温度波动度：±0.5℃
温度偏差：±2.0℃
温度恢复时间：≤5min
恢复条件
试样：塑料封装集成电路（均布）传感器位置：试样的上风侧
高温曝露： RT~+150℃：≥30分钟
环境温度曝露：常温
低温曝露： RT~-55℃：≥30分钟
试样重量：4.5kg（如需要放置重的试样，请提前告知）
制冷方式：风冷、水冷
高低温冲击试验箱，三箱冷热冲击试验机满足标准：
1.GJB 150.5A-2009温度冲击试验
2.GJB 360B-2009温度冲击试验
3.GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971电工电子产品环境试验第2部分:试验方法温度变化试验导则
4.GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009温度冲击试验
5.GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验A：低温
6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温
7.GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件
8.GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件
