高低温冲击试验箱，三箱式冷热冲击试验机简介：
高低温冲击试验箱，三箱式冷热冲击试验机主要用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,通过测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的质量,从精密的IC到重机械的组件，作为其产品改进的依据或参考。以便考核试品的适应性或对试品的行为作出改进、鉴定及出厂检验用。
高低温冲击试验箱，三箱式冷热冲击试验机技术性能：
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机型 | JS-GDCJ-100/150/200/500B |
测试环境条件 | 环境温度为+25℃、试验箱内无试样条件下 |
测试方法 | GB/T 5170.2-1996 温度试验设备 |
高温室 |
预温度范围 | RT～+200℃ |
升温时间 | RT+10℃→+200℃ ≤40min 注：升温时间为高温室单独运转时的性能 |
低温室 |
预冷温度范围 | RT~-70℃ |
降温时间 | RT → -70℃≤60min 注：降温时间为低温室单独运转时的性能 |
试验室（试样区） |
试验方式 | 气动风门切换 3 温区冲击试验条件（高温-常温-低温） 2 温区冲击试验条件（高温-低温） |
温度冲击范围 | -55℃～ +80℃ |
温度波动度 | ±0.5℃ |
温度偏差 | ±2.0℃ |
温度恢复时间 | ≤5min |
恢复条件 | 试样：塑料封装集成电路（均布）传感器位置：试样的上风侧 高温曝露： RT~+150℃：≥30分钟 环境温度曝露：常温 低温曝露： RT~-55℃：≥30分钟 试样重量：4.5kg（如需要放置重的试样，请提前告知） |
制冷方式 | 水冷 |
高低温冲击试验箱，三箱式冷热冲击试验机满足标准：
1.GJB 150.5A-2009温度冲击试验
2.GJB 360B-2009温度冲击试验
3.GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971电工电子产品环境试验第2部分:试验方法温度变化试验导则
4.GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009温度冲击试验
5.GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验A：低温
6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温
7.GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件
8.GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件
